64K/J LTE Test (U)SIM - Plug-IN - M2M UICC -40°C to +105°C

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64K/J LTE Test (U)SIM - Plug-IN - M2M UICC -40°C to +105°C

10432008
Temperature (TB) -40 °C to +105 °C
UICC multi-application platform
New LTE data fields implemented
Two applications: Test SIM, Test USIM
Based on Java CardTM Open Platform technology
1.8V / 3V / 5V
64K EEPROM
APIN 1 disabled
GSM XOR/3G test algorithm
Creation of new data fields allowed

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  • Marca: COMPRION
  • Codice Prodotto: BF000471
  • Disponibilità: a magazzino
  • Prezzo Netto:
  • 115,00€
  • Prezzo incl. 22% IVA: 140,30€

Tag: test sim card